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产品型号
KC -
厂商性质
生产厂家 -
更新时间
2026-07-31 -
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产品描述
凯视迈光学表征扫描测量系统测量显微镜，设备采用非接触式光谱共焦技术，Z 轴分辨率可达 2nm，哑光、深色、透明、弱反光等难测样品均可稳定成像，无划伤工件风险。一机可测三维形貌、粗糙度、高度落差、轮廓尺寸，广泛用于半导体、3C 电子、薄膜、新材料精密质检，可提供全套精密测量检测解决方案。
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凯视迈表面表征测量分析系统光学显微镜，集成形貌扫描、超景深观察、融合测量三大核心功能，可非接触、高精度获取样品表面微观形貌，生成高度彩色三维点云，实现数据图形化的显示、处理、测量与分析，广泛应用于新型材料研究、精密工程技术等基石研究领域。
